実験装置
| ◆ | 計測装置 |
|  図1-1 超高真空走査プローブ顕微鏡（UHV-SPM, ユニソク）
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 図1-2 超高真空走査プローブ顕微鏡（JSPM-4610A, JEOL; ケルビンフォース対応）
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 図1-3 走査プローブ顕微鏡（JSPM-5200, JEOL; 大気圧、高真空、簡易液中計測対応）
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|  図1-4 走査電子顕微鏡（S-2700, 日立製作所）
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 図1-5 電界放射型走査電子顕微鏡（S-900, 日立製作所）
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 図1-6 電界放射型走査電子顕微鏡（S-4000, 日立製作所）
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|  図1-7 オージェ電子分光／二次イオン質量分析装置（AES-SIMS, 日電アネルバ; 現 キャノンアネルバ）
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 図1-8 共焦点レーザ顕微鏡（LEXT OLS3000, OLYMPUS）
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 図1-9 カンチレバ型バイオセンサ（PM-500A, 東京測器研究所）
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|  図1-10 ソースメータ／多チャンネル測定マルチメータ（2636B/2700J, ケースレーインスツルメンツ）
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 図1-11 近接場光学顕微鏡（SNOM, 自作）
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 図1-12 測定顕微鏡（MF-UA1010, Mitutoyo）
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| ◆ | 加工装置 |
|  図2-1 集束イオンビーム装置（SMI500, SIIナノテクノロジ; 現 日立ハイテクサイエンス）
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 図2-2 電子線描画装置（JSM-6500F/Beam Draw, JEOL/Tokyo Technology）
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 図2-3 高周波スパッタリング装置（ファインコータ; JFC-2300, JEOL）
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|  図2-4 クイックコータ装置（SC-708, サンユー電子）
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 図2-5 ソフトプラズマエッチング装置（SEDE-GEHL, メイワフォーシス）
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 図2-6 両面マスクアライナ（PEM-800, ユニオン光学）
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|  図2-7 赤外線加熱炉（IR298, サーモ理工）
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 図2-8 卓上型精密管状雰囲気電気炉（FT-02VAC-50, フルテック）
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 図2-9 ３Ｄ加工機（SRM-20, Roland DG）
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|  図2-10 フィラメント式３Ｄプリンタ（daVinci Jr. 2.0 Mix, XYZプリンティング）
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 図2-11 フィラメント式３Ｄプリンタ（daVinci_Jr_ProX+, XYZプリンティング）
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 図2-12 光造形式３Ｄプリンタ（Form3+, Formlabs）
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| ◆ | その他 |
|  図3-1 インキュベータ（APM-50DR, アステック）
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 図3-2 ドラフトチャンバ（LDS120, ヤマト科学）
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 図3-3 純粋製造装置（WG250, ヤマト科学）
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